幹凈度顆粒測試體系TCI-XM（簡略單純型）
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- TCI-XM幹凈度顆粒檢測體系對清洗過濾後獲得的濾有殘渣的濾紙，經由過程丈量顯微鏡法視察和測定殘渣顆粒的巨細，與XA型的幹凈度檢測體系的差異在XM型是手動型，所以普通可以實用于幹凈度請求不長短常高的情形，如檢測顆粒巨細，或許顆粒較大並且數目不多。 特色： ●經由過程數碼攝像頭可以在盤算機監督器上直接視察、丈量顆粒，精確測定非金屬、金屬顆粒的巨細 ●能同時將金屬顆粒的反光區和暗影區歸並丈量 ●鼠標引誘丈量（鼠標挪動響應顆粒），主動給出丈量數據 ●關於測試顆粒分類彙總 ●隨意率性排版的圖文混編的申報輸入 ●顆粒規模：3微米—5000…
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